薄膜测厚仪ST4000-DLX

产品简介： 快速测量 操作简单 非接触式 非破坏性 极好的再现性 再现能力 基于用户友好界面的Windows操作 图像打印功能 数据保存 产品详情： 产品简介： 标准模式 工业规格 适合科研中心   尺寸  500 x 610 x 640 mm  重量  45Kg  类型  手动的  测量样本大小  ≤ 8", 12"  测量方法  无连接的  测量原理  反射计  特点 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 Print Function of Each View & Data Saving  活动范围  200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")  测量范围  100?~ 35?(Depends on Film Type)  光斑尺寸  40?/20?, 4?(option)  测量速度  1~2 sec./site  应用领域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement  Intended for Wafer Measurement & OLED  选项  Programmable Auto Z Stage  参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)  焦点  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls  附带照明  12v 100W Halogen Lamp

 

产品规格

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	ST4000-DLX	薄膜测厚仪	活动范围: 200mm x 200mm(8	登陆查看	来电询价