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薄膜测厚仪ST5030-SL

添加时间:[2014/3/27]浏览次数:[1164]次作者:[成都市晶盛达科技有限公司]

薄膜测厚仪ST5030-SL

 尺寸  500 x 750 x 650 mm
 重量  80Kg
 类型  自动
 测量型号  ≤ 4"
 测量方法  无连接的
 测量原理  反射计
 特征
 测量迅速,操作简单
 非接触式,非破坏方式
 优秀的重复性和再现性
 2D/3D映射和造型
 自动机械活动控制
 电荷耦合器件照相机
 自动调焦

 活动范围  300mm x 300mm
 测量范围  100?~ 35?(Depends on Film Type)
 光斑尺寸  40?/20?,4?(option)
 测量速度  1~2 sec./site (fitting time)
 应用领域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
 Intended for Large Size Wafer Measure
 选择  Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST)
 Anti-vibration table
 接物镜转换器  Quintuple Revolving Nosepiecs
 焦点  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
 附带照明  12v 100W Halogen Lamp
 

产品规格

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ST5030-SL 薄膜测厚仪 测量范围: 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 登陆查看 来电询价

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